可以檢出表面張口的缺陷,但對埋藏缺陷或閉口型的表面缺陷無(wú)法檢出;檢測程序多,速度慢是(?。z測的特點(diǎn)。

單選題
可以檢出表面張口的缺陷,但對埋藏缺陷或閉口型的表面缺陷無(wú)法檢出;檢測程序多,速度慢是( )檢測的特點(diǎn)。
A、渦流
B、聲發(fā)射探傷
C、磁粉
D、滲透

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報 名 時(shí) 間
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考 試 時(shí) 間
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